近年、RM（ラピッドマニュファクチャリング）という言葉に代表されるように設計から試作・製造を含めたあらゆる工程の最適化を図るためのシステム化が望まれています。そのために、試作・製造現場からのフィードバックである３次元計測によって得られたデータをどのように活かすかが重要なポイントになります。
　そこで今回は、３次元計測によって得られるメッシュデータ（STLデータ）を有効に活用するための手法について、試作工程およびシミュレーション（CAE）への展開を中心に説明して頂きます。また、工程最適化についての事例紹介も行いますので、是非ご参加下さい。

　近年の電子機器の開発・製造においては、電磁環境試験は不可欠の項目になっており、VCCI規格やCEマーキング制度などによる国内・海外向けの電磁環境適合認証試験および申請手続きに関する要求がますます高まっています。これにともない、日本および世界のEMC規制の状況や動向を常に把握することが重要になっています。
　そこで今回、情報処理装置等電波障害自主規制協議会（VCCI）から専門委員をお招きし、香川県と(財)かがわ産業支援財団ネクスト香川の共催により、以下の要領で『ＥＭＣセミナー』を開催することになりました。御多忙中とは存じますが、是非御参加くださいますよう御案内申し上げます。