セラミックス溶射皮膜の気孔評価技術 |
平成5年度 |
原 卓雄、冨野寿和、山下雅弘、神高幸則 |
| セラミックス溶射皮膜の気孔を評価する方法として、電気化学的方法によってアノード分極特性の測定を行い、分極電流密度比と分極電位との関係から気孔の定量的評価を行う方法について検討した。その結果、セラミックス溶射皮膜の膜厚が変化しても、分極電流密度比が分極電位に関係せずに、それぞれの試料間でほぼ一定の間隔になる領域が認められた。また、この領域の分極電流密度比の値を検討することにより、セラミックス溶射皮膜の貫通気孔量を比較することが可能となった。 |
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